'Microscopia Térmica de Varredura (SThM) e Microscopia de Força de Sonda Kelvin (KFM): propriedades de transporte térmico e elétrico em nanoescala', por Liliana Vera Londoño (UAM e IMNM, Espanha), dia 17/04 (quarta), às 11h, sem CBPF

COMAN

SEMINÁRIO EXTRAORDINÁRIO

TÍTULO : 'Microscopia Térmica de Varredura (SThM) e Microscopia de Força de Sonda Kelvin (KFM): propriedades de transporte térmico e elétrico em nanoescala'

CONFERENCISTA : Liliana Vera Londoño (Doutoranda em Física da Matéria Condensada, Nanociência e Biofísica, Universidade Autônoma de Madri e Instituto de Micro e Nanotecnologia de Madri)

DIA : 17 de abril (quarta-feira)

HORÁRIO : 11h

LOCAL : Auditório do 6º andar, Edifício César Lattes, no CBPF, à rua Dr. Xavier Sigaud 150, Urca, Rio de Janeiro (RJ)

Entrada gratuita, sem necessidade de inscrição prévia. O público deve apresentar documento de identidade na portaria.

RESUMO :

O IMN (Instituto de Micro e Nanotecnologia de Madri) é um instituto de pesquisa que pertence ao Conselho Nacional de Pesquisa Científica na Espanha (CSIC) e ao Centro Nacional de Microeletrônica (CNM).

O IMN faz parte do Campus Internacional de Excelência (CEI UAM + CSIC). Os Dispositivos de Nanoescala Funcional para Grupo de Recuperação de Energia (FINDER) é um dos grupos que integram o IMN; o grupo trabalha em materiais termoelétricos de nano-engenharia usando diferentes técnicas de fabricação (eletroquímica, magnetron sputtering, epitaxia de feixe molecular, etc.).

A caracterização cristalográfica e morfológica (SEM, AFM, XRD, micro-RAMAN, perfilometria, etc.) são realizadas dentro do grupo. As propriedades de transporte, que são relevantes para a eficiência termoelétrica, como condutividade elétrica (s), densidade do portador (efeito Hall), condutividade térmica (k), difusividade térmica (a) e coeficiente de Seebeck também são medidas no grupo.

Esta palestra está focada em duas técnicas que apenas alguns grupos foram implementados com sucesso, especialmente no caso de medições térmicas. A microscopia térmica de varredura (SThM) é uma técnica proeminente que mede simultaneamente a topografia e a tensão 3-omega e é chamada de 3ω-SThM; Usando uma sonda comercial de Pd revestida em SiN no final da ponta, é possível alcançar uma resolução espacial melhor que 100 nm.

As imagens térmicas obtidas com o método 3ω estão relacionadas às variações de calor das amostras devido à sua condutividade térmica. Suas características são muito importantes para investigações de transporte térmico em nanoescala, que têm ampla aplicabilidade em áreas como biomedicina, indústria eletrônica, nano-dispositivos, células solares, aplicações militares entre outras.

Essa poderosa técnica tem sido utilizada para determinar a condutividade térmica em filmes de SiGe, CuSe, AgSe e também para caracterizar gabaritos AAO (Anodic Aluminium Oxide) utilizados no cultivo de nanofios e nanotubos com aplicações óticas, magenéticas e termoelétricas. A diferença de potencial de contato obtida por microscopia de força de sonda kelvin (KPFM) e algumas publicações relacionadas com essas técnicas também são apresentadas.

Uma breve introdução do histórico anterior pelo aluno de doutorado em caracterização de plasma e superfície durante o bacharelado e mestrado no programa de Fusão Nuclear da Ciência e Engenharia Física também é apresentado. Supervisor de PhD no IMN, Dra. Marisol Martín-González; e tutor de doutorado na Universidad Autónoma de Madrid, Professor Dr. Julio Gómez-Herrero.

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